［本站讯］为树牢师生创新意识，营造浓厚学术氛围，紧跟学术前沿，把握行业动态，集成攻关大平台与晶体材料国家重点实验室共同设立“育晶论坛”系列活动。每期论坛邀请领域内杰出专家学者开展主题讲座，欢迎各位老师、同学通过线上线下方式参会。

一、讲座题目

光学缺陷检测技术及其在晶体研究开发与生产制造中的应用

二、主讲人

吴周令 研究员

三、主讲人简介

中科院上海光学与精密机械研究所博士，现任合肥知常光电科技有限公司董事长兼首席科学家，超光滑表面无损检测安徽省重点实验室主任。从事激光与材料作用、精密光学检测技术研究与开发工作30余年。曾任美国能源部劳伦斯—利弗莫尔国家实验室高级研究员、美国东密西根大学物理系教授兼激光物理实验室主任等职。发表学术论文120多篇，拥有国内外专利100余项，参与撰写学术专著一部。

四、主讲内容

晶体的缺陷是制约材料性能一个非常重要的因素，因此缺陷检测是提升晶体材料性能、保证质量的关键环节。缺陷是在晶体材料生长和加工过程中产生的，缺陷的种类和形态多种多样，对晶体的缺陷实现全面准确的评价与分析是一个挑战。本报告介绍了常用的晶体材料缺陷光学检测技术，主要包括激光散射扫描成像技术、三维层析扫描成像技术、光热扫描显微成像技术、激光/荧光共聚焦显微成像技术等；并简要介绍这些技术应用于不同光学晶体的实际检测案例。

五、主持人

何京良 教授

六、讲座时间

3月30日（周四）14：00

七、讲座地点

山东大学中心校区半导体研发大楼第一会议室

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